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基于K空间变换的三维成像装置及其成像方法
| 专利名称： | 基于K空间变换的三维成像装置及其成像方法 |
| 摘要： | 一种基于K空间变换的三维成像方法，该方法采用沿着光轴方向的片状光照明样品，利用相同的片状光源与该照明光发生干涉；记录干涉图并从中获得被照明的样品在焦平面的复振幅信息(包括振幅和相位)；样品的空间频谱信息可以通过离散傅里叶变换获得；然后利用投影法计算出垂直于样品平面的空间频谱信息；再通过离散逆傅里叶变换，获得垂直于样品平面的强度信息；最后通过扫描，获取最终的样品三维结构信息。该方法具有较高的采集速率和较高的分辨率，特别是对于获取轴向信息，只需单次采集，即可实现成像。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 发明人： | 张雪丹;刘诚;朱健强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810954592.9 |
| 公开号： | CN109085137A |
| 代理机构： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 |
| 代理人： | 张宁展 |
| 分类号： | G01N21/39(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/39;G01N21/47 |
| 申请人地址： | 201800 上海市嘉定区清河路390号 |
| 主权项： | 1.一种基于K空间变换的三维成像装置，其特征在于：包括激光器(1)、透镜(2)、第一分光棱镜(3)、第一柱透镜(4)、光斑探测器(5)、计算机(6)、第二分光棱镜(7)、显微物镜(8)、供待测样品放置的一维电动位移台(9)、夹持器(10)、显微物镜组(11)、第一反射镜(12)、第二柱透镜(13)、第二反射镜(14)；上述元件的位置关系如下：所述激光器(1)发出激光经过透镜(2)成为一束平行光，通过第一分光棱镜(3)分束为透射光束和反射光束，即探测光束和参考光束，所述的探测光束经第一柱透镜(4)聚焦成为片状照明光，并依次经第二分光棱镜(7)和显微物镜(8)汇聚成片状更细的片状照明光照射在待测样品上，经待测样品反射后，原路返回，经显微物镜(8)透射后入射到第二分光棱镜(7)；所述的参考光束经第二反射镜(14)反射后，通过第二柱透镜(13)形成片状参考光，并由第一反射镜(12)反射后，依次经显微物镜组(11)和第二分光棱镜(7)透射后，与经第二分光棱镜(7)反射的探测光束共同入射到光斑探测器(5)，所述的计算机(6)分别与所述的光斑探测器(5)和一维电动位移台(9)相连。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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