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原文传递材料特性检测方法

专利名称：	材料特性检测方法
摘要：	本公开涉及一种材料特性检测方法。该方法包括：将具有预定形状和尺寸的待测样品固定在预拉伸后的柔性基底上，待测样品由待检测的半导体材料制成；释放预拉伸后的柔性基底，使待测样品与柔性基底同步屈曲；对屈曲后的待测样品进行检测，确定检测结果；根据检测结果确定半导体材料的应变与能带结构之间的关系。本公开实施例所提供的材料特性检测方法，可以简单、快速地确定半导体材料的应变与能带结构之间的关系，缩短了检测材料特性的所需的时间，节约了检测材料特性所需的成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学
发明人：	冯雪;王宙恒
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810540859.X
公开号：	CN108760528A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N3/20(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N21;G01N3/20;G01N21/65;G01N21/63
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华园1号
主权项：	1.一种材料特性检测方法，其特征在于，包括：将具有预定形状和尺寸的待测样品固定在预拉伸后的柔性基底上，所述待测样品由待检测的半导体材料制成；释放预拉伸后的柔性基底，使待测样品与柔性基底同步屈曲；对屈曲后的待测样品进行检测，确定检测结果；根据检测结果确定所述半导体材料的应变与能带结构之间的关系。
所属类别：	发明专利