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一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法
| 专利名称： | 一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法，涉及材料无损检测技术领域，本发明包括计算机、函数信号发生器、激光器、用于放置待测材料的测试平台、聚光组件、与计算机电连接的信号反馈组件、光路转换器和空间光调制器SLM，光路转换器与激光器设置于同一水平高度上，空间光调制器SLM与计算机电连接，测试平台设置于光路转换器的正下方，聚光组件用于聚集调制变化的激光照射到样件后由于存在光热效应，样件出现温度涨落与红外辐射，将经被测材料产生的辐射信号收集反射至信号反馈组件，本发明采用空间光调制器SLM进行波前调控，补偿散射相位，从而提高吸收效应，减小材料特性测量中的强散射，增强了材料表面的红外辐射信号。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 电子科技大学 |
| 发明人： | 成祎珊;张希仁;杨立峰;彭真明;冉啟锐 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810526943.6 |
| 公开号： | CN108760645A |
| 代理机构： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 |
| 代理人： | 李龙 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/17 |
| 申请人地址： | 611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 |
| 主权项： | 1.一种强散射材料的光热效应测量系统，包括计算机(1)、与计算机(1)电连接的函数信号发生器(2)、与函数信号发生器(2)电连接的激光器(3)、用于放置待测材料的测试平台(11)、聚光组件以及分别与计算机(1)和函数信号发生器(2)电连接的信号反馈组件，其特征在于：还包括光路转换器(5)和空间光调制器SLM(6)，所述光路转换器(5)与激光器(3)设置于同一水平高度上，用于使激光器(3)发出的激光束射入空间光调制器SLM(6)中，空间光调制器SLM(6)与计算机(1)电连接，测试平台(11)设置于光路转换器(5)的正下方，聚光组件用于聚集经空间光调制器SLM(6)补偿相位后的激光信号入射到被测材料上，并且将经被测材料反射后的辐射信号收集反射至信号反馈组件，通过信号反馈组件将辐射信号信息传送至计算机(1)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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