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原文传递 用于样本表征的改进的光谱设备和方法
专利名称: 用于样本表征的改进的光谱设备和方法
摘要: 本发明涉及用于表征样本(S)的表征设备(50),该设备包括:‑存储器(MEM),其存储穿过半透明材料执行的所述样本的测量的光谱(As+p)和所述半透明材料的测量的光谱(Ap);‑处理单元(PU),其被配置为:*确定穿过所述半透明材料(As+p)的所述样本的所述测量的光谱(As+p)的光谱能量(Es+p);*根据所述光谱能量(Es+p)来估计系数以及*根据穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱(As+p)以及所述半透明材料的校正的光谱来确定所述样本的校正的光谱所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述半透明材料的所述测量的光谱(Ap)以及估计的系数来确定的。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 法国;FR
申请人: 格林特罗皮斯姆公司
发明人: A·拉博德;A·布尔多;A·布朗热
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810305566.3
公开号: CN108760648A
代理机构: 永新专利商标代理有限公司 72002
代理人: 刘瑜;王英
分类号: G01N21/25(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G01N21/35(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/25;G01N21/31;G01N21/35
申请人地址: 法国巴黎
主权项: 1.一种用于表征样本(S)的表征设备(50),所述设备包括:‑存储器(MEM),其存储穿过半透明材料执行的所述样本的测量的光谱(As+p)和所述半透明材料的测量的光谱(Ap);‑处理单元(PU),其被配置为:*确定穿过所述半透明材料(As+p)的所述样本的所述测量的光谱(As+p)的光谱能量(Es+p);*根据所述光谱能量(Es+p)来估计系数以及*根据穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱(As+p)以及所述半透明材料的校正的光谱来确定所述样本的校正的光谱所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述半透明材料的所述测量的光谱(Ap)以及估计的系数来确定的。
所属类别: 发明专利
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