专利名称: |
一种硫离子的检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种硫离子的检测方法,以壳聚糖为碳源合成得到碳量子点溶液,然后与二氧化锰纳米片溶液混合后构建荧光探针溶液,通过向其中加入不同浓度的硫离子溶液,以硫离子浓度为横坐标,加入硫离子前后体系在420nm波长处的荧光强度值为纵坐标构建线性曲线,进而可检测出待测硫离子浓度。该方法成本低廉、灵敏度高、线性关系好、操作简便易行、选择性较好。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
安徽;34 |
申请人: |
安徽师范大学 |
发明人: |
台德艳;周子涵;刘金水 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810534225.3 |
公开号: |
CN108760702A |
代理机构: |
芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 |
代理人: |
尹婷婷 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
申请人地址: |
241000 安徽省芜湖市弋江区花津南路安徽师范大学 |
主权项: |
1.一种硫离子的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将以壳聚糖为碳源的碳量子点溶液与MnO2纳米片溶液混合,构建碳量子点/MnO2纳米片荧光探针溶液;S2、向碳量子点/MnO2纳米片荧光探针溶液中加入不同终浓度的硫离子水溶液,反应2小时,然后测试各体系在344nm激发波长下的荧光光谱;S3、以硫离子浓度为横坐标,加入硫离子前后体系在420nm处的荧光强度比值为纵坐标构建线性曲线,进而可检测出待测硫离子浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |