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原文传递 一种快速筛选镉低积累水稻品种的方法
专利名称: 一种快速筛选镉低积累水稻品种的方法
摘要: 本发明公开了一种快速筛选镉低积累水稻品种的方法,该方法通过利用未受重金属镉污染的土壤种植待筛选的水稻品种,剪取待评估水稻品种的稻穗置于含有镉离子和镉离子荧光标记探针的Hoagland营养液中培养,24小时后采集水稻旗叶或幼穗或籽粒,在荧光显微镜下观察籽粒荧光强度,与空白对照样品比较,筛选出镉低积累水稻品种。本发明方法可连续跟踪镉离子在水稻籽粒中的动态变化过程。极大降低了筛选成本,提高了准确性。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 农业部环境保护科研监测所
发明人: 刘仲齐;黄永春;张长波
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810590168.0
公开号: CN108760706A
代理机构: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246
代理人: 夏艳
分类号: G01N21/64(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N1;G01N21/64;G01N1/28
申请人地址: 300191 天津市南开区复康路31号
主权项: 1.一种快速筛选镉低积累水稻品种的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在温室或田间小区中利用未受重金属镉污染的土壤种植待筛选的水稻品种;2)剪取待评估水稻品种的稻穗,插入低积累水稻品种筛选盘的培养皿中,每皿插入3个稻穗;3)向培养皿中加入含有0.0‑0.5mg/L镉离子的Hoagland营养液;4)向培养皿中加入镉离子荧光标记探针,在人工培养条件下进行培养;5)24小时后采集水稻旗叶或幼穗或籽粒,在荧光显微镜下观察籽粒荧光强度,与只添加荧光探针未添加镉离子的空白对照样品比较,记录荧光强度,选择荧光强度低的品种即为镉低积累水稻品种。
所属类别: 发明专利
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