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拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法
| 专利名称： | 拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法 |
| 摘要： | 本发明属于分析检测技术领域，公开了一种拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法。所述方法为：使用离子溅射仪在待测样品表面喷涂贵金属薄膜，然后将喷涂面朝上置于拉曼光谱仪的反射光路中进行拉曼光谱检测。本发明的方法可以有效淬灭样品表面的荧光物质造成的干扰，得到高质量的谱图；对于基体的荧光也有一定的淬灭作用。本发明的方法简单有效，尤其对于表面有荧光物质的不能破坏的块状样品特别适用，具有重要的实用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 华南理工大学 |
| 发明人： | 梁庆优;杨贤锋;宋国胜;曾招余波;魏嫣莹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810178868.9 |
| 公开号： | CN108760714A |
| 代理机构： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
| 代理人： | 罗啸秋 |
| 分类号： | G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/65 |
| 申请人地址： | 510640 广东省广州市天河区五山路381号 |
| 主权项： | 1.一种拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法，其特征在于包括如下步骤：使用离子溅射仪在待测样品表面喷涂贵金属薄膜，然后将喷涂面朝上置于拉曼光谱仪的反射光路中进行拉曼光谱检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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