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使用光片生成和散射分析的颗粒物测量
| 专利名称： | 使用光片生成和散射分析的颗粒物测量 |
| 摘要： | 公开了用于使用平顶强度激光片光束生成的介质(诸如空气)中的颗粒物(PM)测量的技术。用于生成激光片光束的技术可包括非专用光学元件(例如，非球面透镜、球面透镜、双凸面透镜和/或柱面透镜)，其具有成本效率，减少了系统的总占用面积，并且还提供相较于传统技术增加的功率效率。PM测量系统可使用与介质流动通道组合的所生成的激光片光束，以使介质穿过激光片光束，由此使得该介质内的颗粒对光进行散射，其可以使用光传感器(例如，光电检测器)来检测。随后可以分析散射光信号以使其与对应的颗粒尺寸匹配，并且可以确定每个颗粒尺寸的信号的量，以测量介质内的颗粒的尺寸和计数。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 英特尔公司 |
| 发明人： | T·阿奇克林;徐晟波;M·A·科恩 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201780021227.6 |
| 公开号： | CN108885162A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 黄嵩泉;张欣 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G01N21/94(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N21;G01N15/02;G01N21/94 |
| 申请人地址： | 美国加利福尼亚州 |
| 主权项： | 1.一种用于颗粒物测量的系统，所述系统包括：光源；第一光学组件，用于接收光并且生成基本上准直的光；第二光学组件，用于将所述准直的光聚焦在第一平面中，由此提供光片；介质流动通道，用于使介质穿过所述光片；以及光传感器，被配置成用于检测由所述介质中的颗粒物散射的光。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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