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使用光学和电学测量方法检测分析物
| 专利名称： | 使用光学和电学测量方法检测分析物 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测分析物的方法，其中，所述分析物由与 该分析物有关的一个或多个标记物进行标记，所述方法包括：a)在经标 记的所述分析物上进行光学检测方法以便从所述一个或多个标记物获得 光学数据；b)在经标记的所述分析物上进行电学检测方法以便从所述一 个或多个标记物获得电学数据；和c)由所述光学数据和电学数据确定所 述分析物的身份和/或数量。本发明还提供了一种用于检测多个分析物的 方法，其中，各个不同的所述分析物由与该分析物有关的一个或多个不 同标记物进行标记，所述方法包括：a)在多个经标记的分析物上进行光 学检测方法以便从所述标记物获得光学数据；b)在所述多个经标记的分 析物上进行电化学检测方法以便从所述标记物获得电学数据；和c)由所 述光学数据和电学数据确定所述多个分析物的身份和/或数量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | ITI苏格兰有限公司 |
| 发明人： | 科林·坎贝尔;彼得·迦扎尔;约翰·贝蒂;安德鲁·芒特;蒂尔·巴赫曼 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-01-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200880002780.6 |
| 公开号： | CN101600807 |
| 代理机构： | 北京三友知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 丁香兰;庞东成 |
| 分类号： | C12Q1/68(2006.01)I |
| 申请人地址： | 英国格拉斯哥 |
| 主权项： | 1.一种用于检测分析物的方法，其中，所述分析物由与该分析物有 关的一个或多个标记物进行标记，所述方法包括： a)在经标记的所述分析物上进行光学检测方法以便从所述一个或 多个标记物获得光学数据； b)在经标记的所述分析物上进行电学检测方法以便从所述一个或 多个标记物获得电学数据；和 c)由所述光学数据和电学数据确定所述分析物的身份和/或数量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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