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原文传递测量材料相变性能的串联微带线测试方法

专利名称：	测量材料相变性能的串联微带线测试方法
摘要：	本发明公开了一种测量材料相变性能的串联微带线测试方法，涉及电磁兼容测试技术领域。所述方法包括：将测试材料串联安装在测试装置的微带线上；使用高频噪声模拟器产生的方波信号向测试装置中的测试材料施加电压；观察示波器的波形，当波形为微分波形或者示波器没有波形时，被测材料呈现高阻状态，没有发生相变，当外部施加的电压增加到一定值时，被测材料发生相变，被测材料呈现低阻状态，输出波形逐渐变为前沿短时间微分的方波波形，根据第二种波形计算出被测材料的电阻率和响应时间；所述测试方法解决了现有技术测试相变型电磁防护材料的阻抗变化范围小、响应时间测量不够准确的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	中国人民解放军陆军工程大学
发明人：	赵敏;曲兆明;王庆国;程二威;王平平;杨清熙;王妍
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810890040.6
公开号：	CN108776154A
代理机构：	石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128
代理人：	王占华
分类号：	G01N27/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/04
申请人地址：	050000 河北省石家庄市新华区和平西路97号
主权项：	1.一种测量材料相变性能的串联微带线测试方法，其特征在于包括如下步骤：安装测试系统：所述测试系统包括高频噪声模拟器、串联微带线测试装置、衰减器以及示波器，将所述高频噪声模拟器通过同轴线缆与所述测试装置的信号输入端口（8）连接，所述信号输入端口（8）与所述测试装置内高频电路板（2）上的第一微带信号线（4）的一端连接，第一微带信号线（4）的另一端连接有第一柱形电极，第二柱形电极与第二微带信号线（5）的一端连接，第二微带信号线（5）的另一端与所述装置上的信号输出端口（9）连接，被测材料（10）位于所述第一柱形电极以及第二柱形电极之间，并将所述输出端口经所述衰减器与所述示波器的信号输入端连接，所述第一微带信号线（4）、第一柱形电极、被测材料（10）、第二柱形电极以及第二微带信号线（5）之间构成串联关系；控制高频噪声模拟器工作，使其产生方波测试信号，并将该方波信号通过同轴线缆传送给所述串联微带线测试装置中的第一柱形电极（6），使得第一柱形电极（6）的压持装置（11）与第二柱形电极（7）的压持装置（11）之间产生水平方向的电场或垂直方向的电场，产生的水平方向的电场或垂直方向的电场被施加给第一柱形电极（6）与第二柱形电极（7）之间的被测材料（10）；水平方向的电场测试时，调节高频噪声模拟器的输出电压和脉冲宽度，为所述测试装置提供输入波形，此时，第一柱形电极（6）的压持装置（11）和第二柱形电极（7）的压持装置（11）处在同一条水平线上，两个压持装置（11）平行放置在被测材料（10）的两端，使被测材料（10）与压持装置（11）保证良好的电气连接，使第一柱形电极（6）的压持装置（11）与第二柱形电极（7）的压持装置（11）之间产生水平于被测材料（10）的电场，通过示波器观察输出波形，如果示波器没有出现输出波形，代表此时被测材料（10）电阻较大，还未发生相变，然后逐步增大所述高频噪声模拟器输出的电压幅值，进而提高被测材料（10）所处的场强，并观察示波器的波形变化，当外部施加的电压增加到一定值时，被测材料（10）发生相变，此时被测材料（10）呈现低阻状态，示波器可以观测到输出波形，然后，根据被测材料（10）发生相变后的示波器显示的波形计算出被测材料的电阻率和响应时间，完成测试；垂直方向的电场测试时，调节高频噪声模拟器的输出电压和脉冲宽度，为所述测试装置提供输入波形，此时，被测材料（10）的一面与第一柱形电极（6）的压持装置（11）电连接，被测材料（10）的另一面与第二柱形电极（7）的压持装置（11）电连接，压持装置（11）上下固定被测材料（10），使第一柱形电极（6）的压持装置（11）与第二柱形电极（7）的压持装置（11）之间产生垂直于被测材料（10）的电场，观察示波器的波形，当示波器的波形显示为微分波形时，表示被测材料（10）呈现高阻状态，没有发生相变；步进增大所述高频噪声模拟器输出的电压幅值，进而提高被测材料（10）所处的场强，并观察示波器的波形变化，当外部施加的电压增加到一定值时，被测材料（10）发生相变，此时被测材料（10）呈现低阻状态，输出波形逐渐变为前沿带有过冲的方波波形，然后，根据被测材料（10）发生相变后的示波器显示的波形计算出被测材料的电阻率和响应时间，完成测试。
所属类别：	发明专利