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氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法
| 专利名称： | 氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及牙科技术领域，公开了一种氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法，包括以下步骤：(1)micro‑CT扫描：将氧化锆双层全瓷修复体进行micro‑CT扫描，得到扫描后的二维图像，并将二维图像转换为dicom数据；(2)三维建模：将步骤(1)中的dicom数据导入到处理软件中进行三维建模并分析，得到氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的三维形貌，获得氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的数据。本发明能够在不损坏氧化锆双层全瓷修复体的情况下，检测到氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内的气孔缺陷，在修复体崩瓷的临床研究中起到了至关重要的作用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 赵克 |
| 发明人： | 赵克 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810873510.8 |
| 公开号： | CN108802074A |
| 代理机构： | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 |
| 代理人： | 岳兵 |
| 分类号： | G01N23/046(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/046 |
| 申请人地址： | 510055 广东省广州市越秀区陵园西路56号 |
| 主权项： | 1.氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)micro‑CT扫描：将氧化锆双层全瓷修复体进行micro‑CT扫描，得到扫描后的二维图像，并将二维图像转换为dicom数据；(2)三维建模：将步骤(1)中的dicom数据导入到处理软件中进行三维建模并分析，得到氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的三维形貌，获得氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的数据。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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