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一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置
| 专利名称： | 一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置 |
| 摘要： | 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用，利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列，并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理，并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息，与特征数据库中的数据进行分析比对，得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面，利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析，具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点，并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 云南;53 |
| 申请人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院 |
| 发明人： | 郭晨鋆;王黎明;于虹;刘立帅;刘洪搏;梅红伟;申元;赵晨龙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201820746054.6 |
| 公开号： | CN208443772U |
| 代理机构： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 |
| 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号 |
| 主权项： | 1.一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括数据处理器(1)，红外热像采集装置和光脉冲热激励加载装置，其中，所述数据处理器(1)的输出端电连接至所述红外热像采集装置；所述红外热像采集装置包括互相电连接的红外热成像仪(3)和数据采集卡(2)；所述红外热成像仪(3)位于待测瓷绝缘子(100)的一侧；所述光脉冲热激励加载装置包括脉冲发射装置(4)和电源箱(5)；所述脉冲发射装置(4)位于所述红外热成像仪(3)和待测瓷绝缘子(100)之间；所述电源箱(5)通过导线与所述脉冲发射装置(4)连接；所述脉冲发射装置(4)包括遮光罩(43)及位于所述遮光罩(43)内部的高能脉冲闪光灯阵列(41)；所述遮光罩(43)的中心设有红外热成像仪镜头通孔(42)。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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