专利名称: |
一种应用碳量子点磷光检测三价铁离子浓度的方法 |
摘要: |
本发明涉及一种应用碳量子点磷光检测三价铁离子浓度的方法,包括如下步骤:配制多个不同浓度的三价铁离子标准溶液,分别加入碳量子点以及三聚氰酸,混合均匀;将所得溶液分别放入荧光分光光度计中,在磷光模式下记录磷光强度值,并绘制线性回归曲线;按照上述方法对待测溶液进行检测,将所得磷光强度数据带入代入所述回归曲线中,得到待测溶液的三价铁离子浓度。本发明提供的方法操作简单易行,相比于荧光检测方法可消除溶液中背景荧光和颗粒散射光的干扰,具有更高的信噪比和检测精度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
清华大学 |
发明人: |
周明;李奇军 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810036957.X |
公开号: |
CN108226119A |
代理机构: |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人: |
王文君;郭奥博 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱 |
主权项: |
1.一种应用碳量子点磷光检测三价铁离子浓度的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)配制多个不同浓度的三价铁离子标准溶液,分别加入碳量子点以及三聚氰酸,混合均匀后,得多个碳量子点‑标准品复合混悬液;(2)将所述碳量子点‑标准品复合混悬液分别放入荧光分光光度计中,在磷光模式下记录磷光强度值,并以磷光强度值下降百分率为纵坐标、以标准品溶液的三价铁离子浓度为横坐标绘制线性回归曲线;(3)取待测溶液,按照步骤(1)所述方法配制碳量子点‑待测品复合混悬液,按照步骤(2)所述方法测得磷光强度值下降百分率,代入所述回归曲线中,得到待测溶液的三价铁离子浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |