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原文传递一种老化测试系统

专利名称：	一种老化测试系统
摘要：	本发明公开了一种老化测试系统，包括待测机、老化架、老化房；所述待测机与所述老化架通信连接；所述待测机在进入老化架时，自动进入老化程序测试，当所述待测机经过所述老化架的老化测试后，进行抽样，再放入老化房进行老化测试。本发明可以通过老化架实现对待测机老化测试的自动化测试，提高测试效率和精确度，经过老化架的测试后，再进行抽样经过老化房的测试，多重老化测试，防止将存在问题的产品包装卖出，保障了产品的质量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	合肥品特电子有限公司
发明人：	崔闪闪;王敏;张冲
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810890432.2
公开号：	CN108801896A
分类号：	G01N17/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N17;G01N17/00
申请人地址：	230000 安徽省合肥市肥西县桃花工业园工投立恒工业广场标准化厂房C-2西号第1-4层
主权项：	1.一种老化测试系统，其特征在于，包括待测机、老化架、老化房；所述待测机与所述老化架通信连接；所述待测机在进入老化架时，自动进入老化程序测试，当所述待测机经过所述老化架的老化测试后，进行抽样，再放入老化房进行老化测试。
所属类别：	发明专利