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一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法
| 专利名称： | 一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法，涉及鉴定方法领域。该方法包括：取瓷松的真品制得标准样品，采用X射线荧光能谱法分析标准样品，得到瓷松中化学元素的类别和含量；取多个瓷松真品进行X射线荧光能谱法分析，得到瓷松的化学元素数据，建立瓷松的标准指纹图谱；取待测绿松石制样得待测样品，采用X射线荧光能谱法分析待测样品，获得待测样品的X射线荧光能谱，再与标准指纹图谱进行比对。这种方法能够通过测定化学元素的特征X射线谱线的波长和强度，对瓷松的化学组成进行定性和定量分析，方法灵敏度高，可有效鉴别瓷松的真伪、优劣。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 曹姝旻 |
| 发明人： | 曹姝旻 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810214022.6 |
| 公开号： | CN108132273A |
| 代理机构： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 |
| 代理人： | 李佳 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 510000 广东省广州市越秀区迴龙路增沙街20号 |
| 主权项： | 一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法，其特征在于，其包括：(1)取瓷松的真品制得标准样品，采用X射线荧光能谱法分析所述标准样品，得到所述瓷松中化学元素的类别和含量；(2)取多个瓷松真品进行X射线荧光能谱法分析，得到所述瓷松的化学元素数据，建立所述瓷松的标准指纹图谱；(3)取待测绿松石制样得待测样品，采用X射线荧光能谱法分析所述待测样品，获得所述待测样品的X射线荧光能谱，再与所述标准指纹图谱进行比对。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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