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放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法
| 专利名称： | 放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种X射线检测装置，所述X射线检测装置(10)是检测透过了检查对象物的放射线的装置，其具备：滤光片(50)，其使透射X射线的一部分衰减；检测部(20)，其检测由滤光片(50)使一部分衰减了的透射X射线；箱体(30)；保持架(40)，其具有一个狭缝(42)。检测部(20)具有线性传感器(21)和与线性传感器(21)接近地并列配置的线性传感器(22)。保持架(40)以滤光片(50)覆盖狭缝(42)的一部分的方式将滤光片(50)保持在规定的位置，线性传感器(22)检测由滤光片(50)进行衰减后的X射线。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 浜松光子学株式会社 |
| 发明人： | 大西达也 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201680074801.X |
| 公开号： | CN108474753A |
| 代理机构： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
| 代理人： | 杨琦;陈明霞 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G01V5/00(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01V;G01T;G01N23;G01V5;G01T1;G01N23/04;G01V5/00;G01T1/20 |
| 申请人地址： | 日本静冈县 |
| 主权项： | 1.一种放射线检测装置，其中，所述放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线，检测透过了该检查对象物的放射线，具备：滤光片，其使入射的放射线的一部分衰减；检测部，其检测由所述滤光片使一部分衰减后的放射线；箱体，其将所述检测部收纳于内部；和保持架，其具有可使所述入射的放射线通过的第一狭缝，配置于所述箱体的主面，并保持所述滤光片，所述检测部具有：具有第一像素宽度的像素一维地排列而成的第一线性传感器、和具有第二像素宽度的像素一维地排列且以比所述第一及第二像素宽度窄的间隔与所述第一线性传感器并列配置的第二线性传感器，所述保持架以所述滤光片覆盖所述第一狭缝的至少一部分的方式将所述滤光片保持在规定位置，所述第二线性传感器检测由所述滤光片进行衰减后的放射线。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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