专利名称: |
放射线检查装置及放射线检查方法 |
摘要: |
本发明提供一种放射线检查装置及放射线检查方法,不管空孔或异物的存在位置如何均可提高空孔或异物的检测精度。放射线检查装置包括:放射线源(2),照射放射线;载台(4),位于放射线源(2)的照射范围且能够载置被检体(1);检测器(3),隔着载台(4)而位于与放射线源(2)的相反侧并检测透射被检体(1)的放射线;处理装置(6),将由检测器(3)获得的被检体(1)的二维的透视信息进行图像化;及显示装置(7),显示利用处理装置(6)而获得的图像。而且,处理装置(6)具有算出被检体(1)的位置不同的两个透射数据的比值并生成二维的比值图像的运算部(62),显示装置(7)显示运算部(62)所生成的比值图像。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
东芝IT·控制系统株式会社 |
发明人: |
富泽雅美;渡邉洋贵 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-10-18T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201811214223.2 |
公开号: |
CN110108728A |
代理机构: |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 |
代理人: |
杨文娟;臧建明 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
日本东京新宿区西新宿六丁目24番1号(邮编:160-0023) |
主权项: |
1.一种放射线检查装置,其特征在于,包括: 放射线源,照射放射线; 载台,位于所述放射线源的照射范围,且能够载置被检体; 检测器,隔着所述载台而位于与所述放射线源的相反侧,并检测透射所述被检体的放射线; 处理装置,将由所述检测器获得的所述被检体的二维的透视信息进行图像化;以及 显示装置,显示利用所述处理装置而获得的图像; 所述处理装置具有运算部,所述运算部算出所述被检体的位置不同的两个所述透视信息的比值并生成二维的比值图像, 所述显示装置显示所述运算部所生成的所述比值图像。 2.根据权利要求1所述的放射线检查装置,其特征在于, 所述载台以错开所述被检体的位置的方式移动, 所述放射线源在所述载台的移动前后照射放射线, 所述检测器在所述载台的移动前后分别检测透射所述被检体的放射线, 所述运算部算出所述载台的移动前后的所述两个透视信息的比值。 3.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置,其特征在于, 所述运算部具有: 对数转换电路,对所述透视信息进行对数转换; 差分电路,对两个经对数转换的所述透视信息的差进行运算;以及 指数转换电路,对由所述差分电路而获得的值进行指数转换。 4.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置,其特征在于, 具有包含所述检测器及所述处理装置的平板探测器, 所述平板探测器还具有: 增益修正获取部,在将所述被检体载置于所述载台上的状态下获取使各像素值为同一值的增益修正值;以及 存储部,存储所述增益修正值; 所述运算部通过将使所述被检体移动至与获取所述增益修正值时不同的位置而获得的所述透视信息与所述增益修正值相乘,而生成所述比值图像。 5.根据权利要求1或2所述的放射线检查装置,其特征在于, 具有使所述载台移动的移动机构, 所述移动机构使所述被检体朝所述被检体在位置移动前后的所述透视信息的变化少的方向移动。 6.根据权利要求3所述的放射线检查装置,其特征在于, 具有使所述载台移动的移动机构, 所述移动机构使所述被检体朝所述被检体在位置移动前后的所述透视信息的变化少的方向移动。 7.根据权利要求4所述的放射线检查装置,其特征在于, 具有使所述载台移动的移动机构, 所述移动机构使所述被检体朝所述被检体在位置移动前后的所述透视信息的变化少的方向移动。 8.一种放射线检查方法,其是使用具有放射线源、检测器及显示装置的放射线检查装置的放射线检测方法,所述放射线检查方法的特征在于,包括: 第1获取步骤,利用所述检测器检测由所述放射线源照射并透射被检体的放射线,从而获取第1透视信息; 移动步骤,在所述第1获取步骤后使所述被检体移动; 第2获取步骤,在所述移动步骤后,利用所述检测器检测由所述放射线源照射并透射在所述移动步骤中移动后的所述被检体的放射线,从而获取第2透视信息; 运算步骤,算出所述第1透视信息与所述第2透视信息的比值,并生成二维的比值图像;以及 显示步骤,使所述比值图像显示于所述显示装置。 9.一种放射线检查方法,其是使用具有放射线源及平板探测器的放射线检查装置的放射线检测方法,所述平板探测器包括对各像素的感度偏差进行修正的增益修正值设定模式,所述放射线检查方法的特征在于,包括: 启动步骤,启动所述增益修正值设定模式; 增益修正获取步骤,利用所述平板探测器检测由所述放射线源照射并透射被检体的放射线,从而获取增益修正值; 移动步骤,使所述被检体移动;以及 透视图像获取步骤,利用所述平板探测器检测透射在所述移动步骤中移动后的所述被检体的放射线,从而获取透视图像。 |
所属类别: |
发明专利 |