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用于确定悬浮液中尺寸≤1μm颗粒的平均回转半径的方法以及用于实施该方法的设备
| 专利名称： | 用于确定悬浮液中尺寸≤1μm颗粒的平均回转半径的方法以及用于实施该方法的设备 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定悬浮液中尺寸≤1μm的颗粒的平均回转半径(rg)的方法以及一种用于实施根据本发明所述方法的设备。该方法基于纳米颗粒上线性极化电磁辐射的散射，所述纳米颗粒悬浮在溶液中并移动通过流通池。照射垂直于运动方向进行，散射强度通过至少四个检测器测量，所述检测器以限定的角度布置在限定的平面中。或者，可以在至少一个检测器的位置处使用至少一个反射镜，其将辐射偏转到至少一个检测器上。基于散射强度，可以确定颗粒的平均回转半径(rg)和其在悬浮液中的浓度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 德国;DE |
| 申请人： | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
| 发明人： | I·弗雷泽 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201680066781.1 |
| 公开号： | CN108369170A |
| 代理机构： | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 |
| 代理人： | 崔佳佳;徐迅 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I;G01N15/10(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G01N21/53(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N21;G01N15/02;G01N15/00;G01N15/06;G01N15/10;G01N21/47;G01N21/53 |
| 申请人地址： | 德国慕尼黑 |
| 主权项： | 1.一种用于确定悬浮液中尺寸≤1μm(优选≤500nm，特别优选≤200nm)的颗粒的平均回转半径〈rg〉的方法，其包括以下步骤：a)包含尺寸≤1μm(优选≤500nm，特别优选≤200nm)颗粒的悬浮液以特定流量沿着运动直线通过流动池的运动；b)通过辐射源沿照射直线用波长≤800nm的线极化电磁辐射对所述流动池中的所述悬浮液的照射，所述照射直线与所述运动直线在散射点处相交；和c)通过至少一个第一和至少一个第二检测器检测所述电磁辐射的至少两个第一散射强度，所述至少一个第一检测器相对于所述照射直线以第一角度θ1布置，并且所述至少一个第二检测器相对于所述照射直线以第二角度180°‑θ1布置；d)通过至少一个第三和至少一个第四检测器检测所述电磁辐射的至少两个另外的散射强度，所述至少一个第三检测器相对于所述照射直线以第三角度θ2布置，并且所述至少一个第四检测器相对于所述照射直线以第四角度180°‑θ2布置；其中，θ2≠θ1；e)用没有颗粒的参比液代替包含颗粒的所述悬浮液重复步骤a)至d)；f)形成至少四个散射强度的差数，分别地从具有颗粒的所述悬浮液的所述散射强度中减去没有颗粒的所述参比液的所述散射强度；g)根据所述至少四个散射强度的差数计算所述颗粒的所述平均回转半径(rg)，其特征在于，所述至少一个第一、第二、第三和第四检测器布置在平行于所述照射直线且垂直于所述运动直线的平面中，或者在至少一个检测器的位置使用至少一个用于将所述电磁辐射偏转到所述至少一个检测器的反射镜。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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