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原文传递 基于足迹特征圆分析年龄的方法
专利名称: 基于足迹特征圆分析年龄的方法
摘要: 本发明提供了一种基于足迹特征圆分析年龄的方法,包括:对足迹表面及周边部位进行观察,从整体轮廓和细微的波纹线条中寻找到椭圆或圆的轮廓;根据椭圆的长轴或圆的直径确定年龄,椭圆的长轴或圆的直径允许的误差范围为正负2mm。本发明能够根据现场残余足迹和/或现场重叠足迹的椭圆长轴或圆的直径特征准确推断出嫌疑人年龄。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京和众视野科技有限公司
发明人: 胡书良;胡晓雯
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810283958.4
公开号: CN108508154A
分类号: G01N33/00(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G01B11/08(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N33;G01N21;G01B11;G01B21;G01N33/00;G01N21/84;G01B11/08;G01B21/10
申请人地址: 100825 北京市门头沟区城子市场街29号1-9号
主权项: 1.一种基于足迹特征圆分析年龄的方法,其特征在于,包括:对足迹表面及周边部位进行观察,从整体轮廓和细微的波纹线条中寻找到椭圆或圆的轮廓;根据椭圆的长轴或圆的直径确定年龄,椭圆的长轴或圆的直径允许的误差范围为正负2mm。
所属类别: 发明专利
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