专利名称: |
基于足迹特征圆分析年龄的方法 |
摘要: |
本发明提供了一种基于足迹特征圆分析年龄的方法,包括:对足迹表面及周边部位进行观察,从整体轮廓和细微的波纹线条中寻找到椭圆或圆的轮廓;根据椭圆的长轴或圆的直径确定年龄,椭圆的长轴或圆的直径允许的误差范围为正负2mm。本发明能够根据现场残余足迹和/或现场重叠足迹的椭圆长轴或圆的直径特征准确推断出嫌疑人年龄。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京和众视野科技有限公司 |
发明人: |
胡书良;胡晓雯 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810283958.4 |
公开号: |
CN108508154A |
分类号: |
G01N33/00(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G01B11/08(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N33;G01N21;G01B11;G01B21;G01N33/00;G01N21/84;G01B11/08;G01B21/10 |
申请人地址: |
100825 北京市门头沟区城子市场街29号1-9号 |
主权项: |
1.一种基于足迹特征圆分析年龄的方法,其特征在于,包括:对足迹表面及周边部位进行观察,从整体轮廓和细微的波纹线条中寻找到椭圆或圆的轮廓;根据椭圆的长轴或圆的直径确定年龄,椭圆的长轴或圆的直径允许的误差范围为正负2mm。 |
所属类别: |
发明专利 |