专利名称: |
一种激光诱导击穿光谱检测系统 |
摘要: |
本实用新型公开一种激光诱导击穿光谱检测系统,包括:光路系统,样品室,LED灯,三维位移样品台,自动控制系统;样品室为一密闭的腔体,其顶壁上设有通孔;LED灯固定于样品室的内侧壁上;三维位移样品台置于样品室中;在三维位移样品台的置物台的顶面设置一个以上盲孔;加热装置固定于盲孔底面;开口朝上的样品池置于盲孔中,且样品池采用导热材料制作,置物台采用绝热材料制作;光路系统通过通孔作用于置物台上;光路系统、LED灯、电动平移台、电动升降机构、加热装置均与自动控制系统电性连接。本实用新型提供的技术方案,能够使各种形态样品的前处理更加便捷,从而提高检测效率;同时,能够降低环境对检测结果的影响。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
成都艾立本科技有限公司 |
发明人: |
王旭;杨燕婷;段忆翔 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820275708.1 |
公开号: |
CN207850928U |
代理机构: |
成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 |
代理人: |
谢一平;曾克 |
分类号: |
G01N21/71(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N1;G01N21/71;G01N21/01;G01N1/28;G01N1/44 |
申请人地址: |
610000 四川省成都市武侯区科华北路65号B座2415 |
主权项: |
1.一种激光诱导击穿光谱检测系统,包括:光路系统,样品室(1),LED灯(2),三维位移样品台,自动控制系统;所述样品室(1)为一密闭的腔体,样品室(1)的顶壁上设有通孔;所述LED灯(2)固定于所述样品室(1)的内侧壁上;所述三维位移样品台置于所述样品室(1)中;所述三维位移样品台包括:电动平移台(3),电动升降机构(4),置物台(5),底座(21);在所述置物台(5)的顶面设置一个以上盲孔(6);还包括:样品池(7)和加热装置(8);所述加热装置(8)固定于所述盲孔(6)底面;所述样品池(7)与所述盲孔(6)的形状、大小相适配;所述样品池(7)置于所述盲孔(6)中,样品池(7)开口朝上;所述样品池(7)采用导热材料制作,所述置物台(5)采用绝热材料制作;所述置物台(5)的底面固定于所述电动升降机构(4)上,电动升降机构(4)固定于所述电动平移台(3)上,电动平移台(3)可在所述底座(21)上移动,底座(21)置于所述样品室(1)的内底面;所述光路系统通过所述通孔作用于所述置物台(5)上;所述光路系统、LED灯(2)、电动平移台(3)、电动升降机构(4)、加热装置(8)均与所述自动控制系统电性连接。 |
所属类别: |
实用新型 |