专利名称: |
一种开放环境中固体样品微等离子体取样装置 |
摘要: |
本发明公开了一种开放环境中固体样品微等离子体取样装置,属于等离子体产生及应用技术领域,它包括:金属电极、介质软管、绝缘介质管、气体通道柱体、高压脉冲电源、三维可调平台及保护性气体;绝缘介质管的一端固定在气体通道柱体中,另一端对接有介质软管;金属电极位于绝缘介质管和介质软管的中心孔内,且与高压脉冲电源的输出端连接,作为放电电极;用于放置固体样品的三维可调平台与金属电极的尖端相对,固体样品与高压脉冲电源的地端连接,作为接地电极;保护性气体通过介质软管和金属电极在金属电极的尖端形成保护性气体区域;该装置能够在开放环境下对固体材料样品进行取样。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京理工大学 |
发明人: |
何锋;段正超;欧阳吉庭 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201710773869.3 |
公开号: |
CN107576524A |
代理机构: |
北京理工大学专利中心 11120 |
代理人: |
郭德忠;仇蕾安 |
分类号: |
G01N1/02(2006.01)I;G01N27/68(2006.01)I;G01N21/67(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N27;G01N21;G01N1/02;G01N27/68;G01N21/67 |
申请人地址: |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |
主权项: |
一种开放环境中固体样品微等离子体取样装置,其特征在于,包括:金属电极(1)、介质软管(2)、绝缘介质管(3)、气体通道柱体(4)、高压脉冲电源(5)、三维可调平台(7)及保护性气体(9);所述金属电极(1)为空心的针状结构;所述绝缘介质管(3)端面上加工有两个以上轴向通孔;所述气体通道柱体(4)内加工有气体通道;整体连接关系如下:绝缘介质管(3)的一端固定在气体通道柱体(4)的气体通道中,另一端对接有介质软管(2);金属电极(1)位于绝缘介质管(3)和介质软管(2)的中心孔内,其尖端伸出介质软管(2)的端面,另一端伸出绝缘介质管(3)后,位于气体通道柱体(4)的气体通道中,且该端与高压脉冲电源(5)的输出端连接,作为放电电极,对固体样品(6)进行放电取样,得到微等离子体;用于放置固体样品(6)的三维可调平台(7)与金属电极(1)的尖端相对,固体样品(6)与高压脉冲电源(5)的地端连接,作为接地电极;三维可调平台(7)用于调节金属电极(1)的尖端与固体样品(6)之间的距离及固体样品(6)的取样位置;保护性气体(9)通过气体通道柱体(4)的气体通道进入金属电极(1)的空心和绝缘介质管(3)的轴向通孔中,再通过介质软管(2)和金属电极(1)在金属电极(1)的尖端形成保护性气体区域。 |
所属类别: |
发明专利 |