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SLM加工过程构件表层能量分布监测装置及方法
| 专利名称： | SLM加工过程构件表层能量分布监测装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种SLM加工过程构件表层能量分布监测装置及方法，包括激光光源，还包括高速摄像机、红外热像仪，以及通过控制信号线缆与激光光源、高速摄像机、红外热像仪电连接的同步触发源；其中高速摄像机用于采集构件表面加工图像；并发送加工图像至HSI色彩识别系统；红外热像仪用于辅助温度标定，并且标定过程中与所述HSI色彩识别系统具有相同的时间轴坐标；同步触发源向激光光源、高速摄像机、红外热像仪输出开关信号。本发明可对常规监测时的加工缺陷进行采集，并实时处理图像表征其能量分布，对内部潜在缺陷预警，效率较高；辅以红外热成像仪的表层温度分布监测，对结果进行标定、校对，可获取绝对温度数值，便于对结构件质量进行预分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 清华大学 |
| 发明人： | 杨舟;雒建斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710828631.6 |
| 公开号： | CN108956611A |
| 代理机构： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 |
| 代理人： | 崔自京 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01J;G01N21;G01J5;G01N21/88;G01J5/00 |
| 申请人地址： | 100000 北京市海淀区清华园 |
| 主权项： | 1.一种SLM加工过程构件表层能量分布监测装置，包括激光光源(1)，其特征在于，还包括高速摄像机(2)、红外热像仪(3)、同步触发源(4)；所述同步触发源(4)通过控制信号线缆(7)与所述激光光源(1)、所述高速摄像机(2)、所述红外热像仪(3)电连接；其中所述高速摄像机(2)用于监测并采集SLM加工过程构件表面的加工图像；并发送所述加工图像至HSI色彩识别系统(5)；(注意高速摄像机采集的是构件表面的动态图像)所述红外热像仪(3)用于辅助温度标定，并且标定过程中与所述HSI色彩识别系统(5)具有相同的时间轴坐标；所述同步触发源(4)向所述激光光源(1)、所述高速摄像机(2)、所述红外热像仪(3)输出开关信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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