专利名称: |
一种太赫兹双探测系统 |
摘要: |
本实用新型公开了一种太赫兹双探测系统,包括:800nm光分束镜、800nm光反射镜、太赫兹分束镜、太赫兹反射镜、第一透镜、第二透镜、第一硅片、第二硅片、碲化锌晶体、1/4波片、偏置电压电路、滤光片、光电倍增管、锁相放大器、棱镜、平衡探测器和电脑。本实用新型提供的太赫兹双探测系统,将电光采样技术与气体等离子体探测技术集合到一体,电光晶体选择碲化锌(ZnTe),可自由切换两种探测模式,或同时使用两种方式探测,提供多种选择方式,灵活使用,且功能超越了任一个单个探测系统,不仅节约了成本,且系统紧凑、可集成化,便于商品化。其可以满足更多人需求,增强了测试的灵活性,广泛应用于测试领域。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市鹏星光电科技有限公司 |
发明人: |
刘杰;张新海 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820183965.2 |
公开号: |
CN207850916U |
代理机构: |
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 |
代理人: |
唐致明;洪铭福 |
分类号: |
G01N21/3586(2014.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01J;G01N21;G01J1;G01N21/3586;G01N21/01;G01J1/04 |
申请人地址: |
518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道发达路云里智能园7栋4楼02室 |
主权项: |
1.一种太赫兹双探测系统,其特征在于,包括:800nm光分束镜、800nm光反射镜、太赫兹分束镜、太赫兹反射镜、第一透镜、第二透镜、第一硅片、第二硅片、碲化锌晶体、1/4波片、偏置电压电路、滤光片、光电倍增管、锁相放大器、棱镜、平衡探测器和电脑;其中,所述800nm光分束镜、800nm光反射镜、太赫兹分束镜、太赫兹反射镜、第一硅片、第二硅片分别平行且均与水平面成45度角放置,且太赫兹波经过所述太赫兹分束镜,其中一束到达第一硅片并传输至第一透镜,另一束经过所述太赫兹反射镜并反射至第二硅片,再次传输至第二透镜;800nm光经过所述800nm光分束镜后,其中一束光到达第二硅片并再次反射至第二透镜,另一束光到达800nm光反射镜反射至第一硅片,并再次反射至第一透镜;所述偏置电压电路的一端与第一透镜连接,另一端与滤光片连接;所述光电倍增管的一端与滤光片连接,所述光电倍增管的另一端与电脑连接;所述第二透镜与碲化锌晶体连接,所述碲化锌晶体还通过1/4波片与棱镜的一端连接,所述棱镜的另一端与平衡探测器连接,所述平衡探测器与锁相放大器的一端连接,所述锁相放大器的另一端与电脑连接。 |
所属类别: |
实用新型 |