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一种有机薄膜杨氏模量标准化测算方法
| 专利名称： | 一种有机薄膜杨氏模量标准化测算方法 |
| 摘要： | 本发明属于有机薄膜的力学特性测量技术领域，具体为一种有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法。本发明方法的步骤为：对有机薄膜进行单次加载‑卸载测试，得到该有机薄膜的单次载荷曲线；应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德‑琼斯势理论，通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线，并对载荷曲线进行拟合，得到拟合参数；根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式，以及拟合参数，确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值。该方法可以得到柔软有机薄膜在压缩后弹回到受力为零时的杨氏模量E0，该杨氏模量E0不会随薄膜的应力或应变改变，相对固定，适用于有机薄膜杨氏模量的互相比较和标准化测试。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 复旦大学 |
| 发明人： | 钟高余;叶飞;李杰;闫伟青;王虞焱 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810225203.9 |
| 公开号： | CN108507892A |
| 代理机构： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 |
| 代理人： | 陆飞;陆尤 |
| 分类号： | G01N3/42(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/42 |
| 申请人地址： | 200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |
| 主权项： | 1.一种有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法，其特征在于，具体步骤为：（1）利用纳米压痕仪对有机薄膜进行单次加载‑卸载测试，得到该有机薄膜的单次载荷曲线；（2）应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德‑琼斯势理论，通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线，并对载荷曲线进行拟合，得到拟合参数；（3）根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式，以及拟合参数，确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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