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波长量级非均匀度相位物体的三维折射率定量重构方法
| 专利名称： | 波长量级非均匀度相位物体的三维折射率定量重构方法 |
| 摘要： | 本发明涉及物体的三维成像与重建技术领域，具体涉及一种能够定量重构非均匀度为波长量级的相位物体三维折射率的方法。本发明利用莫尔偏折技术测量出的散射相位一阶导数，只需在空间域进行两次卷积计算，不需要进行任何频率域的变换，就可以重建出相位物体的折射率分布。该研究为基于莫尔偏折法的衍射层析技术提供了理论基础，对于衍射层析系统的设计与简化具有重要的意义。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安工业大学 |
| 发明人： | 王佳;聂亮;陶禹;张维光;路绍军;韩峰;吴慎将 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810309563.7 |
| 公开号： | CN108519351A |
| 代理机构： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 |
| 代理人： | 黄秦芳 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
| 申请人地址： | 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号 |
| 主权项： | 1.一种波长量级非均匀度相位物体的三维折射率定量重构方法，其特征在于，具体包括以下步骤：1)、单色平行光经过被测相位物体，由于物体的折射率不均匀，对入射光产生散射或衍射效应，利用莫尔偏折技术测量散射场相位的一阶导数 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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