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一种基于相位标定的折射率场定量测量系统与方法
| 专利名称： | 一种基于相位标定的折射率场定量测量系统与方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于相位标定的折射率场定量测量系统与方法，该系统包括光源及在光源后方依次设置的聚焦透镜、小孔光阑、准直透镜、探测区域、成像透镜、刀口和探测器，在标定时探测区域用于放置标准相位调控元件，在测量时将标准相位调控元件换为待测场放置于探测区域；还包括用于控制探测器及标准相位调控元件的控制单元；在标定时控制单元控制标准相位调控元件在不同位置产生不同强度的折射率梯度，并控制探测器记录，以获取该系统对不同位置、不同大小的偏折角在探测器上产生的响应关系；在测量时控制探测器探测待测场，并根据所述响应关系以获取待测场的折射率分布。本发明能减小测量误差，实现对折射率场准确、定量的测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中山大学 |
| 发明人： | 王嘉辉;汤国靖;欧阳昕;杨萍;罗万嵩 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811458340.3 |
| 公开号： | CN109444077A |
| 代理机构： | 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 |
| 代理人： | 杨钊霞;张柳 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号 |
| 主权项： | 1.一种基于相位标定的折射率场定量测量系统，其特征在于，包括光源(1)及在光源(1)后方依次设置的聚焦透镜(2)、小孔光阑(3)、准直透镜(4)、探测区域(5)、成像透镜(6)、刀口(7)和探测器(8)，在标定时探测区域(5)用于放置标准相位调控元件，在测量时将标准相位调控元件换为待测场放置于探测区域(5)；光源(1)发出的光经聚焦透镜(2)汇聚于小孔光阑(3)处，再经准直透镜(4)变为平行光，最后经探测区域(5)后由成像透镜(6)出射的光经刀口(7)切割后在探测器(8)探测面上成像；还包括用于控制探测器(8)及标准相位调控元件的控制单元(9)；在标定时控制单元(9)控制标准相位调控元件在不同位置产生不同强度的折射率梯度，并控制探测器(8)记录，以获取该系统对不同位置、不同大小的偏折角在探测器(8)上产生的响应关系；在测量时控制探测器(8)探测待测场，并根据所述响应关系以获取待测场的折射率分布。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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