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一种基于高光谱技术鉴定木霉菌的方法
| 专利名称： | 一种基于高光谱技术鉴定木霉菌的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱技术鉴定木霉菌的方法，首先准备木霉样本，用高光谱扫描仪获取样本的原始高光谱三维图像，对原始高光谱三维图像进行校正和背景删除后对高光谱图像中每个像素点一定波长范围内的近红外光谱采用小波变换进行去噪预处理后，提取样本近红外图像的平均光谱数据，接着对光谱数据平均值采用二阶导数选取特征波长，然后再基于特征波长对应的光谱数据建立PLS‑DA模型，PLS‑DA模型采用全交互验证进行参数寻优，最后利用模型对样本的预测集进行判别，实验证明利用本发明的方法建立的模型可以有效地对木霉菌进行鉴定分类。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江大学 |
| 发明人： | 苏珍珠;章初龙;林福呈;何勇;冯雷;冯晓晓;朱素素 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810306429.1 |
| 公开号： | CN108535214A |
| 代理机构： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
| 代理人： | 胡红娟 |
| 分类号： | G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/359;G01N21/3563 |
| 申请人地址： | 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
| 主权项： | 1.一种基于高光谱技术鉴定木霉菌的方法，包括如下步骤：(1)准备测试样本，每种木霉样本以2:1的比例随机划分为建模集S1和测试集S2；(2)用高光谱扫描仪获得放置在平台上的不同木霉样品中每个像素点在各个波长下的图像信息，得到木霉样本的原始高光谱三维图像；(3)对获得的木霉样本的原始高光谱三维图像进行校正和背景删除；(4)对高光谱图像中每个像素点一定波长范围内的近红外光谱采用小波变换进行去噪预处理后，提取木霉样本近红外图像的平均光谱数据，记为X1，将对应近红外光谱的木霉种类记为为Y1；(5)对经过小波变换预处理后的近红外光谱数据X1进行特征波长选择，记特征波长为X2；(6)将所得数据(X2，Y1)分别代入步骤(1)已划分的建模集S1和预测集S2；(7)以X2为输入和Y1为输出，根据建模集S1建立PLS‑DA模型；(8)将步骤(6)中的预测集S2的近红外光谱数据输入步骤(7)中建立的PLS‑DA模型，对不同品种的木霉菌进行定性分析。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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