详情

原文传递利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法

专利名称：	利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法
摘要：	本发明公开了一种通过分析样品的激光诱导击穿光谱(LIBS)进行材料鉴定的方法。首先，对该LIBS光谱进行预处理，使得那些具有较强和较弱发射线的元素的贡献达到均衡。同时，减少了光谱变量的数目，以提高仪器的特异性，并将仪器噪声的影响降到最低。然后，将常用的光谱鉴定和图库检索算法应用于这种预处理的LIBS光谱，并进行材料的鉴定。本发明通过对LIBS光谱进行预处理，使那些具有较强和较弱发射线的元素的光谱响应能够达到均衡。
专利类型：	发明专利
申请人：	必达泰克光电设备(上海)有限公司
发明人：	厉群;周新;赵军
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T04:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010141734.7
公开号：	CN111208117A
代理机构：	上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	张骥
分类号：	G01N21/73;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/73
申请人地址：	201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)龙桂路121号2幢103室
主权项：	1.一种利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，包括以下各步骤：采集多个库样品的LIBS光谱；计算每个库样品的均衡LIBS谱，其中每个感兴趣元素的光谱响应都被均衡；采集某一未知样品的LIBS光谱；计算未知样品的均衡LIBS谱，其中每个感兴趣元素的光谱响应都被均衡；以及将未知样品的均衡LIBS谱与库样品的均衡LIBS谱进行比较，以鉴定该未知样品的材料。 2.根据权利要求1所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，还包括如下步骤：即为每个感兴趣的元素选择一个或多个光谱区域，并在所选的光谱区域处对所选数量的库样品进行主成分分析，以提取该元素的主成分。 3.根据权利要求2所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，所述库样品和未知样品的均衡LIBS光谱通过计算相应的LIBS光谱的每个感兴趣元素的主成分分析得分来进行计算，利用所提取的主成分和归一化处理主成分分析得分，并参考所选数量的库样品之间的最大主成分分析得分。 4.根据权利要求1所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，还包括如下步骤：即参照库样品和未知样品的LIBS光谱的连续辐射强度，对原子或离子发射的强度进行归一化处理，以获得库样品和未知样品的归一化的LIBS光谱。 5.根据权利要求1所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，还包括如下步骤：即计算库样品和未知样品的LIBS光谱的导数。 6.根据权利要求1所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，所述方法采用一种包含高重复率脉冲激光的LIBS装置，来测量库样品和未知样品的LIBS光谱，其中高重复率脉冲激光在千赫兹或更高范围内以高重复率产生一系列激光脉冲。 7.根据权利要求6所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，所述LIBS装置包含一种非门控光谱仪。 8.根据权利要求7所述的利用激光诱导击穿光谱技术鉴定材料的方法，其特征在于，所述非门控光谱仪的积分时间能够被调整，从而覆盖激光脉冲系列的多个周期。
所属类别：	发明专利