专利名称: |
光学相干层析成像系统 |
摘要: |
本发明涉及一种光学相干层析成像系统。该系统包括光源、光纤耦合器、透镜组、信号采集设备及信号处理设备。光源用于发射初始光;光纤耦合器用于将初始光分束,得到参考光和样品光;透镜组设置于光纤耦合器与待测样品之间的光路上;样品光经过光纤传输至透镜组,再经过透镜组入射至待测样品,并由待测样品反射,得到样品反射光;样品反射光经过透镜组并和参考光干涉,得到干涉光;透镜组用于降低样品光的损耗;信号采集设备用于探测干涉光以得到干涉光谱;信号处理设备用于处理干涉光谱得到待测样品的结构图像。上述光学相干层析成像系统可以增强干涉光的信号,从而使得干涉光谱中的光强较大,从而得到待测样品的结构图像的效果较好。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
河北;13 |
申请人: |
雄安华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
发明人: |
彭世昌;丁庆 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810308326.9 |
公开号: |
CN108535217A |
代理机构: |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人: |
吴平 |
分类号: |
G01N21/45(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/45 |
申请人地址: |
071800 河北省保定市容城县容蠡路西侧华北机电城2号楼1号房 |
主权项: |
1.一种光学相干层析成像系统,其特征在于,包括:光源,用于发射初始光;光纤耦合器,用于将所述初始光分束,得到参考光和样品光;透镜组,设置于所述光纤耦合器与所述待测样品之间的光路上;所述样品光经过光纤传输至所述透镜组,再经过所述透镜组入射至待测样品,并由所述待测样品反射,得到样品反射光;所述样品反射光经过所述透镜组并和所述参考光干涉,得到干涉光;所述透镜组用于降低所述样品光的损耗;信号采集设备,用于探测所述干涉光以得到干涉光谱;及信号处理设备,用于处理所述干涉光谱得到所述待测样品的结构图像,以对所述待测样品进行在线检测。 |
所属类别: |
发明专利 |