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原文传递一种金相抛光制样方法

专利名称：	一种金相抛光制样方法
摘要：	本发明涉及金相抛光技术领域，具体涉及一种金相抛光制样方法，包括如下步骤：（1）使用由粗至细的砂纸依次对试样的待测面进行预磨；（2）将抛光膏注入酒精中配置抛光液，并使抛光膏均匀分布于酒精中；（3）将绒布和丝绸依次置于抛光机的抛光盘上并固定；（4）采用具有由粗至细抛光膏的抛光液对试样依次进行多道抛光；（5）采用酒精抛掉残留在待测面上的抛光液；（6）在试样的待测面上喷洒酒精进行清洗并吹干；本发明的制样方法制样过程高效、成品率高，避免了传统抛光过程对试样表面的污染，可大幅度减少金相“假象”的产生；同时避免了传统金相制样采用抛光粉和抛光剂所产生的人身伤害。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	华电国际电力股份有限公司技术服务中心;苏州热工研究院有限公司;华电邹县发电有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
发明人：	刘天佐;尤华;魏玉忠;马芹征;张国栋;张路;赖云亭;张亚;夏咸喜;刘献良
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810255656.6
公开号：	CN108535080A
代理机构：	苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人：	孙仿卫;陈婷婷
分类号：	G01N1/32(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N1/32
申请人地址：	250014 山东省济南市历下区经十路14800号
主权项：	1.一种金相抛光制样方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）使用由粗至细的砂纸依次对试样的待测面进行预磨，每更换一道砂纸，待测面转动90°，使下一道的研磨方向与上一道磨痕的长度方向相垂直，研磨至上一道的磨痕彻底去除；（2）将由粗至细的粒度为WNO.1、WNO.2、…WNO.n的n种抛光膏分别注入n瓶酒精中的其中一瓶，形成n瓶具有不同粒度抛光膏的抛光液，震荡，使抛光膏均匀分布于酒精中，其中，n为整数，n不小于2；（3）设置n+1台抛光机，对其分别进行编号为1#、2#、…n#和n+1#，其中n#的抛光机配设具有WNO.n粒度抛光膏的抛光液，n+1#的抛光机配设酒精溶液，将绒布和丝绸依次置于每台抛光机的抛光盘上并固定；（4）依次开动1#、2#、…n#抛光机对待测面进行抛光，每更换一台抛光机，待测面转动90°，使下一道的抛光方向与上一道的抛光方向相垂直，抛光前在丝绸上喷洒抛光液，抛光过程中向丝绸上间隔喷洒抛光液，其中，开动1#抛光机时，试样的抛光方向与最后一道砂纸研磨得到的磨痕长度方向相垂直；（5）开动n+1#抛光机，将酒精均匀喷洒在丝绸上，固定试样于丝绸上方轻轻抛光5‑10秒，抛掉残留在待测面上的抛光液；（6）在试样的待测面上喷洒酒精进行清洗并吹干。
所属类别：	发明专利