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缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
| 专利名称： | 缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提供能够减少由搬运过程中的膜中产生的颤动带来的影响从而适当地向膜记录缺陷信息的缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。缺陷检查系统具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置(13)，其将基于缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由搬运线搬运的膜(F105)，记录装置(13)具有通过向膜(F105)的沿着端缘部的记录区域排出墨水(i)从而印刷缺陷信息的印刷头(13a)，印刷头(13a)与同膜(F105)接触的引导辊(153c)对置地配置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 住友化学株式会社 |
| 发明人： | 桥口大辅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810166617.9 |
| 公开号： | CN108535272A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 刘文海 |
| 分类号： | G01N21/89(2006.01)I;B41J3/407(2006.01)I;B41M5/00(2006.01)I;G;B;G01;B41;G01N;B41J;B41M;G01N21;B41J3;B41M5;G01N21/89;B41J3/407;B41M5/00 |
| 申请人地址： | 日本国东京都 |
| 主权项： | 1.一种缺陷检查系统，其特征在于，具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由所述搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置，其将基于所述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由所述搬运线搬运的膜，所述记录装置具有在所述膜的沿着端缘部的记录区域印刷所述缺陷信息的印刷头，所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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