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缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
| 专利名称： | 缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 住友化学株式会社;东友精细化工有限公司 |
| 发明人： | 洪昇均;李银珪;加集功士 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810169803.8 |
| 公开号： | CN108535273A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 刘文海 |
| 分类号： | G01N21/89(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;B41J11/00(2006.01)I;B41J3/407(2006.01)I;G;B;G01;B41;G01N;B41J;G01N21;B41J11;B41J3;G01N21/89;G01N21/84;B41J11/00;B41J3/407 |
| 申请人地址： | 日本国东京都 |
| 主权项： | 1.一种缺陷检查系统，具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由所述搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置，其将基于所述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由所述搬运线搬运的膜，所述记录装置具有：在所述膜的沿着端缘部的记录区域印刷所述缺陷信息的印刷头、检测所述膜的蛇行的蛇行检测部、以及对所述印刷头进行操作而使所述印刷头相对于所述膜相对地沿与所述膜的搬运方向交叉的方向移动的头操作部，与所述蛇行检测部检测到的所述膜的蛇行相应地，所述头操作部使所述印刷头移动至与所述记录区域对置的位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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