专利名称: |
非经典非线性超声相控阵无损检测方法 |
摘要: |
非经典非线性超声相控阵无损检测方法,利用非线性超声相控阵聚焦声场的特性,通过相位调控,灵活的将焦点聚焦到样品的不同位置;利用相控阵来接收信号,通过对接收信号的进行滤波处理,将滤出的高次谐波信号进行时间反转成像;通过提取高次谐波进行时间反转成像;通过图像比较可以看出:当存在一个缺陷时,聚焦点聚焦在缺陷位置时,通过提取谐波信号进行时间反转成像,时间反转成像的结果可以反映缺陷的位置;当存在两个缺陷时,将焦点分别聚焦在不同缺陷处,提取谐波信号进行时间反转成像,然后将获得的图像进行合成,也可以得到反映两个缺陷位置的成像效果。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京大学 |
发明人: |
刘晓宙;夏伟 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810240274.6 |
公开号: |
CN108535362A |
代理机构: |
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 |
代理人: |
陈建和 |
分类号: |
G01N29/11(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/11 |
申请人地址: |
210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号 |
主权项: |
1.非经典非线性超声相控阵无损检测方法,其特征是利用非线性超声相控阵聚焦声场的特性,通过相位调控,灵活的将焦点聚焦到样品的不同位置;利用相控阵来接收信号,通过对接收信号的进行滤波处理,将滤出的高次谐波信号进行时间反转成像;通过提取高次谐波进行时间反转成像;通过图像比较可以看出:当存在一个缺陷时,聚焦点聚焦在缺陷位置时,通过提取谐波信号进行时间反转成像,时间反转成像的结果可以反映缺陷的位置;当存在两个缺陷时,将焦点分别聚焦在不同缺陷处,提取谐波信号进行时间反转成像,然后将获得的图像进行合成。 |
所属类别: |
发明专利 |