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原文传递相控阵微波成像无损检测装置及方法

专利名称：	相控阵微波成像无损检测装置及方法
摘要：	本发明提供了一种相控阵微波成像无损检测装置及方法，包括：计算机、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、阵列天线、馈线、信号采集与处理器、变位机；计算机分别与控制器、信号采集与处理器、变位机连接；所述计算机包括一个检测模块，所述检测模块提供扫描控制参数，计算机将检测模块提供的扫描控制参数发送至控制器；控制器根据接收到的控制参数，控制微波源产生微波信号，微波源将微波信号传输至功率放大器。本发明所述的一种微波相控阵无损检测装置及方法相比于传统的方法，具有精度高、效率高、可实时成像等优点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海航天精密机械研究所
发明人：	吴龙飞;武丽丽;鹿启栋;金永乔;钟珂珂;王飞;张小龙
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910239445.8
公开号：	CN110044933A
代理机构：	上海段和段律师事务所
代理人：	李佳俊;郭国中
分类号：	G01N22/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N22
申请人地址：	201600 上海市松江区贵德路1号
主权项：	1.一种相控阵微波成像无损检测装置，其特征在于，包括：计算机、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、阵列天线、馈线、信号采集与处理器、变位机；计算机分别与控制器、信号采集与处理器、变位机连接；所述计算机包括一个检测模块，所述检测模块提供扫描控制参数，计算机将检测模块提供的扫描控制参数发送至控制器；控制器根据接收到的控制参数，控制微波源产生微波信号，微波源将微波信号传输至功率放大器；检测模块提供变位指令，计算机将检测模块提供的变位指令发送至控制器；控制器根据接收到的变位指令，控制变位机调整被检测的工件的位置及角度；功率放大器根据接收的微波信号，对微波信号进行功率放大，并将放大后的微波信号传输至功率分配器；功率分配器根据接收的放大后对的微波信号，将放大后的微波信号分成数量不小于阵列天线的阵列单元数量的功率分量，并将各个功率分量传输至阵列天线的各个阵列单元，各个阵列单元根据接收的功率分量发射微波；信号采集与处理器接收微波信号扫描被检测的工件后形成的回波信号，并传输至计算机；软件模块根据接收的回波信号，生成微波相控阵成像图。 2.根据权利要求1所述的相控阵微波成像无损检测装置，其特征在于，所述的阵列天线包括：基体板、多个阵列单元；所述多个阵列单元按行或列排列；每个阵列单元之间保持固定的行、列间距，所有阵列单元设置于基体板上；所述阵列单元包括：T/R组件、发射天线。 3.根据权利要求2所述的相控阵微波成像无损检测装置，其特征在于，所述变位机由机电运动机构组成，并与被检测的工件通过机械连接；所述机电运动机构指可改变被检测工件的位置、角度的机构，机电运动机构与所述控制器连接，控制器接收计算机发出的变位指令，控制变位机调整被检测工件的位置及角度。 4.根据权利要求1所述的相控阵微波成像无损检测装置，其特征在于，所述回波信号包括：回波幅值、回波时间。 5.一种微波相控阵无损检测方法，其特征在于，包括：采用权利要求1至4任一项所述的相控阵微波成像无损检测装置，进行聚焦产生具有相控阵聚焦特征的微波，对被检测工件进行扫描；接收微波信号扫描被检测的工件后形成的回波信号；根据接收到的回波信号，生成微波相控阵成像图；根据生成的微波相控阵成像图，根据预设标准判断被检测的工件是否存在缺陷。 6.根据权利要求5所述的微波相控阵无损检测方法，其特征在于，所述微波的频率范围为3GHz至60GHz；所述微波为电磁波。
所属类别：	发明专利