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膜层检测方法、装置及膜层检测系统
| 专利名称： | 膜层检测方法、装置及膜层检测系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种膜层检测方法、装置及膜层检测系统，属于面板制造领域。该膜层检测方法用于检测设置在基板上的至少一层膜层，该膜层检测方法包括：采用光源从基板设置有膜层的一侧进行照射；从基板设置有膜层的一侧，采集膜层图像，该膜层图像包括被照射的至少一层膜层的图像；根据膜层图像的亮度分布，确定至少一层膜层中最上层膜层的类型。本发明通过用光源从基板设置有膜层的一侧照射待处理的基板，在图像采集组件采集膜层图像之后，基于膜层图像的亮度分布，可以确定该至少一层膜层中最上层膜层的类型，从而避免了由于错误膜层导致面板报废或者设备宕机。达到了降低产能损失，提高生产效率的效果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 绵阳京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 发明人： | 安亚斌;张铁轶;權基瑛;闫小宝;李彦生 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710902942.2 |
| 公开号： | CN107727654A |
| 代理机构： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 |
| 代理人： | 滕一斌 |
| 分类号： | G01N21/84(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/84 |
| 申请人地址： | 621000 四川省绵阳市高新西区科发大道中段198号 |
| 主权项： | 一种膜层检测方法，其特征在于，所述膜层检测方法用于检测设置在基板上的至少一层膜层，所述方法包括：采用光源从所述基板设置有膜层的一侧进行照射；从所述基板设置有膜层的一侧，采集膜层图像，所述膜层图像包括被照射的所述至少一层膜层的图像；根据所述膜层图像的亮度分布，确定所述至少一层膜层中最上层膜层的类型。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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