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一种水分子吸收系数的温度校正方法
| 专利名称： | 一种水分子吸收系数的温度校正方法 |
| 摘要： | 一种水分子吸收系数的温度校正方法，该方法包括：通过多项式插值的方法，求得296K处的水分子配分函数的值与预设温度T处的水分子配分函数的值的比例K1；对每一条吸收谱线(假设编号为i)，计算下述比例K2[i]，用来补偿由于设定温度T不同于参比温度296K而引起的变化，即：(1)处于基态能级上的水分子的比例变化；(2)与该条吸收谱线相关的基态与激发态能级上的水分子比例差的变化。结合该水分子吸收系数的温度校正方法，可以实现在无需使用很高分辨率的光谱仪的情况下，有效地获得不同温湿度及压力条件下水分子的吸收光谱，从而可以为诸如腔增强吸收光谱技术等提供标准的水分子吸收光谱以用于水分子的浓度反演。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市卡普瑞环境科技有限公司 |
| 发明人： | 欧阳彬;王玉政 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811025878.5 |
| 公开号： | CN109115706A |
| 代理机构： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 |
| 代理人： | 谈杰 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保街道福田保税区市花路五号长富金茂大厦1号楼11层1106 |
| 主权项： | 1.一种水分子吸收系数的温度校正方法，其特征在于，包括：通过多项式插值的方法，求得296K处的水分子配分函数的值与预设温度T处的水分子配分函数的值的比例K1，记为： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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