详情

原文传递 T-mode测量的颗粒物吸收系数的校正方法

专利名称：	T-mode测量的颗粒物吸收系数的校正方法
摘要：	本发明涉及T‑mode测量的颗粒物吸收系数的校正方法。针对T‑mode测量方法中近红外波段(750nm)的颗粒物吸收系数假设为零的问题，提出了一种颗粒物吸收系数的校正方法。首先，根据遥感反射比计算色素颗粒物浓度占总悬浮颗粒物浓度的比例；然后，计算750nm处的颗粒物吸收系数ap(750)；最后，对颗粒物吸收系数和非色素颗粒物吸收系数进行校正，并对结果进行分析。本发明的方法一方面可以对T‑mode方法测量的历史数据进行校正，另一方面可以改进基于近红外吸收系数为0的假设建立的模型，实现对T‑mode方法测量的颗粒物吸收系数和非色素颗粒物吸收系数进行校正，以提高测量精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	中国科学院南京地理与湖泊研究所
发明人：	薛坤;马荣华;沈明;段洪涛;张玉超
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910734699.7
公开号：	CN110501267A
代理机构：	江苏致邦律师事务所
代理人：	徐蓓;尹妍
分类号：	G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	210008 江苏省南京市玄武区北京东路73号
主权项：	1.T-mode测量的颗粒物吸收系数的校正方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：获取水体实测遥感反射比光谱Rrs(λ)、总悬浮颗粒物浓度SPM和叶绿素a浓度Chla；根据实测遥感反射比光谱Rrs(λ)计算Chla/SPM，基于实测SPM和Chla构建SPMph和Chla相关关系模型，进而构建以Chla/SPM表征的f的计算公式；其中f定义为色素颗粒物浓度SPMph占总悬浮颗粒物浓度SPM的比例；步骤2：根据750nm处色素颗粒物的比吸收系数aph(750)、750nm处非色素颗粒物的比吸收系数ad(750)、步骤1计算得到的f和基于实测遥感反射比光谱Rrs(λ)计算的SPM，计算750nm处的颗粒物吸收系数ap(750)；步骤3：基于步骤2计算得到的ap(750)，对T-mode测量得到的颗粒物吸收系数ap(λ)和非色素颗粒物吸收系数ad(λ)进行校正。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤1中，实测遥感反射比光谱Rrs(λ)由美国ASD公司生产的地物双通道光谱仪测量得到；总悬浮颗粒物浓度SPM由实验室称重法测量得到；叶绿素a浓度Chla由实验室丙酮法测量得到。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤1中，根据实测遥感反射比光谱Rrs(λ)计算Chla/SPM的公式如下： 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SPMph和Chla相关关系模型在高SPMph浓度情况下构建，即SPMph＝SPM；将443nm处色素颗粒物的吸收系数aph(443)占颗粒物吸收系数ap(443)的比例大于80％的情况假设为SPMph＝SPM，构建此时的SPM和Chla相关关系模型，作为SPMph和Chla相关关系模型。 5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，构建的SPMph和Chla相关关系模型为：SPMph＝0.37Chla(R2＝0.94) 即： 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤2中，ap(750)基于下式计算得到： ap(750)＝(f×aph(750)+(1-f)×ad(750))×SPM (3) 其中，f由步骤1计算得到；SPM基于实测遥感反射比光谱Rrs(λ)计算得到；aph(750)假设为0；ad(750)取0.014。 7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述SPM从Rrs(709)计算得到，如下式所示： SPM＝1417.6×Rrs(709)0.95 (4) 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤3中，将T-mode测量得到的颗粒物吸收系数ap(λ)和非色素颗粒物吸收系数ad(λ)分别加上步骤2计算得到的ap(750)，得到校正后的颗粒物吸收系数ap-corr(λ)和非色素颗粒物吸收系数ad-corr(λ)，如下： ad-corr(λ)＝ad(λ)+ap(750) (5) ap-corr(λ)＝ap(λ)+ap(750) (6) 其中，λ为400–750nm。
所属类别：	发明专利