专利名称: |
一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统 |
摘要: |
本实用新型公开了一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统,包括芯片输送单元、相机、控制单元、环形光源、光源控制器及光纤传感器,所述相机设置在所述芯片输送单元的上方,其包括图像传感器、镜头及FPGA图像采集处理器,所述FPGA图像采集处理器用于采集所述图像传感器拍摄的芯片图像,所述控制单元包括ARM主处理器及DSP协处理器,所述DSP协处理器分别连接所述FPGA图像采集处理器和ARM主处理器,所述光源控制器分别连接所述ARM主处理器和环形光源,所述光纤传感器用于检测待检芯片的位置。本实用新型能够实现芯片引脚缺陷检测的智能化和自动化,节省了人力,确保了检测精度和效率。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
福建;35 |
申请人: |
厦门福信光电集成有限公司 |
发明人: |
洪亚德 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201821063733.X |
公开号: |
CN208313802U |
代理机构: |
厦门致群专利代理事务所(普通合伙) 35224 |
代理人: |
刘兆庆;邓贵琴 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
361000 福建省厦门市软件园观日路30号204单元 |
主权项: |
1.一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统,其特征在于:包括芯片输送单元、相机、控制单元、环形光源、光源控制器及光纤传感器,所述相机设置在所述芯片输送单元的上方,其包括图像传感器、镜头及FPGA图像采集处理器,所述FPGA图像采集处理器用于采集所述图像传感器拍摄的芯片图像,所述控制单元包括ARM主处理器及DSP协处理器,所述DSP协处理器分别连接所述FPGA图像采集处理器和ARM主处理器,其用于对芯片图像进行分析处理,所述光源控制器分别连接所述ARM主处理器和环形光源,所述光纤传感器用于检测待检芯片的位置,并将检测信号发送给所述ARM主处理器。 |
所属类别: |
实用新型 |