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原文传递 一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统
专利名称: 一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统
摘要: 本实用新型公开了一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统,包括芯片输送单元、相机、控制单元、环形光源、光源控制器及光纤传感器,所述相机设置在所述芯片输送单元的上方,其包括图像传感器、镜头及FPGA图像采集处理器,所述FPGA图像采集处理器用于采集所述图像传感器拍摄的芯片图像,所述控制单元包括ARM主处理器及DSP协处理器,所述DSP协处理器分别连接所述FPGA图像采集处理器和ARM主处理器,所述光源控制器分别连接所述ARM主处理器和环形光源,所述光纤传感器用于检测待检芯片的位置。本实用新型能够实现芯片引脚缺陷检测的智能化和自动化,节省了人力,确保了检测精度和效率。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 福建;35
申请人: 厦门福信光电集成有限公司
发明人: 洪亚德
专利状态: 有效
申请号: CN201821063733.X
公开号: CN208313802U
代理机构: 厦门致群专利代理事务所(普通合伙) 35224
代理人: 刘兆庆;邓贵琴
分类号: G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 361000 福建省厦门市软件园观日路30号204单元
主权项: 1.一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统,其特征在于:包括芯片输送单元、相机、控制单元、环形光源、光源控制器及光纤传感器,所述相机设置在所述芯片输送单元的上方,其包括图像传感器、镜头及FPGA图像采集处理器,所述FPGA图像采集处理器用于采集所述图像传感器拍摄的芯片图像,所述控制单元包括ARM主处理器及DSP协处理器,所述DSP协处理器分别连接所述FPGA图像采集处理器和ARM主处理器,其用于对芯片图像进行分析处理,所述光源控制器分别连接所述ARM主处理器和环形光源,所述光纤传感器用于检测待检芯片的位置,并将检测信号发送给所述ARM主处理器。
所属类别: 实用新型
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