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原文传递谷粒质量测定装置

专利名称：	谷粒质量测定装置
摘要：	提供一种谷粒质量测定装置，其可根据待测定得谷粒形状通过自动改变装置的光路长度而精准且有效地对各种谷粒执行质量测定。本发明的装置的特征在于包含：料斗，配置于装置的框体的上部且其中投入谷粒；叶轮，通过叶轮的转动将投入至料斗的谷粒进行输送；样品测定部，配置于叶轮的下方且可填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至样品测定部的谷粒质量，以及控制装置，可根据投入至料斗的谷粒的形态调整自测定元件的透射光的光路长度。光路长度的控制是通过电性调整光路长度调整组件的位置来执行。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	静冈制机株式会社
发明人：	石津裕之;青岛由武;福元义高;殿柿章子
专利状态：	有效
申请号：	CN201780028441.4
公开号：	CN109154559A
代理机构：	上海元好知识产权代理有限公司 31323
代理人：	刘琰;张静洁
分类号：	G01N21/3563(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本国静冈县袋井市山名町4番地之1
主权项：	1.一种谷粒质量测定装置(1)，其特征在于，包含：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于装置(1)的框体(2)的上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7)的谷粒的质量；以及控制装置(15)，能根据投入至所述料斗(3)的谷粒的形态调整自所述测定元件的透射光的光路长度(L)。
所属类别：	发明专利