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原文传递谷粒品质测定装置

专利名称：	谷粒品质测定装置
摘要：	本发明公开了提供一种谷粒品质测定装置，根据待测量的谷粒形状改变叶轮的转速而可容易地获得稳定的测定结果，且不受到谷粒形态的影响。本发明的装置的特征在于包含配置于框体的上部且可接收谷粒的料斗、可通过叶轮的转动将料斗所接收的谷粒进行输送的叶轮、配置于叶轮的下方且可填充预定量的谷粒的样品测定部、用于光学测定填充至样品测定部的谷粒品质的测定装置、以及根据投入至料斗的谷粒的形态改变叶轮转速的控制装置。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	静冈制机株式会社
发明人：	石津裕之;青岛由武;福元义高;殿柿章子
专利状态：	有效
申请号：	CN201780028420.2
公开号：	CN109154560A
代理机构：	上海元好知识产权代理有限公司 31323
代理人：	贾慧琴;张静洁
分类号：	G01N21/359(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本国静冈县袋井市山名町4番地之1
主权项：	1.一种谷粒品质测定装置(1)，其特征在于，包括：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于所述装置(1)的框体(2)上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7)的谷粒的品质；以及控制装置(15)，用于根据投入至所述料斗(3)的谷粒的形态改变所述叶轮(4)的转速。
所属类别：	发明专利