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一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具
| 专利名称： | 一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具 |
| 摘要： | 本发明涉及一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，本发明实现稳定同位素测定样本痕量样品的便捷、精准地提取以及封装包埋，解决现行实验工具难以简便、快捷且精准地提取痕量样品，导致多次重复提取、称量痕量样品过程中产生的称量偏差、样品被污染等问题；解决现行实验工具因多次重复痕量提取、称量样品，以及封装包埋工具缺乏，导致实验成本及其时间成本被增加的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海海洋大学 |
| 发明人： | 林东明;陈新军;宣思鹏;韩飞;韦记朋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811133831.0 |
| 公开号： | CN109141963A |
| 分类号： | G01N1/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 201306 上海市浦东新区沪城环路999号 |
| 主权项： | 1.一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，所述痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，所述封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，所述压板一面上固定有左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔，用于封装包埋盒，另一面为为全平面设计，用于压实包埋盒。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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