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基于贵金属纳米粒子注入的非常规储层有效孔隙测试方法
| 专利名称： | 基于贵金属纳米粒子注入的非常规储层有效孔隙测试方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于贵金属纳米粒子注入的非常规储层有效孔隙测试方法，包括如下步骤：(1)逐级加压、通过高压充注将贵金属纳米粒子流体注入至测试样品的基质孔隙中，达到最高压力值后退卸压使部分贵金属纳米粒子退出样品，测试加压和退卸压过程中每个压力点对应的样品质量，由此获取贵金属纳米粒子流体在样品中的注入情况；(2)对样品表面进行氩离子抛光处理，在氩离子抛光面上应用场发射扫描电镜进行微米‑纳米微观储集空间观测，确定样品有效孔隙的结构及孔隙连通性。本发明结合图像定性研究与孔隙性测试的量化研究结果，利用贵金属纳米粒子在场发射扫描电镜下与非常规储层基质的显著差异，加强储层孔隙的表征效果，具有广泛的实用性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 中国矿业大学 |
| 发明人： | 赵迪斐;郭英海 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811049548.X |
| 公开号： | CN109142187A |
| 代理机构： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 |
| 代理人： | 吴飞 |
| 分类号： | G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 221116 江苏省徐州市大学路1号中国矿业大学 |
| 主权项： | 1.一种基于贵金属纳米粒子注入的非常规储层有效孔隙测试方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)逐级加压、通过高压充注将贵金属纳米粒子流体注入至测试样品的基质孔隙中，达到最高压力值300MPa后退卸压、使部分贵金属纳米粒子退出样品，测试加压和退卸压过程中每个压力点对应的样品质量，确定不同注入压力下贵金属纳米粒子在样品中的注入量；(2)对步骤(1)所得样品表面进行氩离子抛光处理，在氩离子抛光面上应用场发射扫描电镜进行微米‑纳米微观储集空间观测，观测孔隙的形貌特征、类型和孔径分布，确定样品有效孔隙的结构及孔隙连通性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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