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用于颗粒测定的检测和信号处理系统
| 专利名称： | 用于颗粒测定的检测和信号处理系统 |
| 摘要： | 用于检测和处理来自颗粒的信号的系统和方法。在示例性方法中，颗粒可以通过通道的区域，同时用光照射该区域。光与颗粒的相互作用可以使光偏转并引起光致发光。可以从该区域检测偏转信号和光致发光信号。可以在偏转信号中识别颗粒波形。颗粒波形的至少一个子集可以是双峰波形，包括对应于进入和离开该区域的颗粒的一对峰。可以从光致发光信号获得幅度。幅度可以对应于各个颗粒及它们的颗粒波形，并且幅度的至少一个子集可以对应于该双峰波形。基于相应的幅度，可以将多个个体颗粒分配为对于分析物为阳性或阴性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 生物辐射实验室股份有限公司 |
| 发明人： | Y·凌;D·P·斯顿伯;G·卡曼;D·普林斯汀斯基 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201680082843.8 |
| 公开号： | CN109154551A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 汪骏飞;侯颖媖 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 美国加利福尼亚州 |
| 主权项： | 1.一种检测和处理来自颗粒的信号的方法，所述方法包括：使颗粒通过通道的区域，其中每个颗粒包括标记，并且仅所述颗粒的子集包括分析物；用至少一个光源产生的光照射所述区域，其中所述光与所述颗粒的相互作用使一部分所述光偏转并从所述标记引起光致发光；用一对检测器检测来自所述区域的偏转信号和光致发光信号；识别所述偏转信号中的颗粒波形，所述颗粒波形对应于各个颗粒，所述颗粒波形的至少一个子集是双峰波形，包括对应于进入和离开所述区域的颗粒的一对峰；从所述光致发光信号获得幅度，所述幅度对应于各个颗粒以及它们的颗粒波形，所述幅度的至少一个子集对应于所述双峰波形；以及基于对应的幅度将多个个体颗粒分配为对于所述分析物为阳性或阴性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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