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成分组成计测系统及成分组成计测方法
| 专利名称： | 成分组成计测系统及成分组成计测方法 |
| 摘要： | 成分组成计测系统具备：对计测对象照射具有产生等离子体程度的强度的第一激光(L1)的第一激光光源、对计测对象照射具有不产生等离子体程度的强度的第二激光(L2)的第二激光光源、根据对计测对象照射第一激光而产生的等离子体的发光来测定表示各波长的强度的发光光谱的光谱测定装置、使用所测定的发光光谱的数据分析计测对象的组成的控制装置。第二激光光源在第一激光(L1)的照射开始前，开始照射第二激光(L2)，在第一激光(L1)的照射结束后，结束照射第二激光(L2)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 国立大学法人德岛大学 |
| 发明人： | 出口祥啓;谢芳仲 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780030052.5 |
| 公开号： | CN109154567A |
| 代理机构： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 |
| 代理人： | 林军;姚开丽 |
| 分类号： | G01N21/63(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 日本德岛县德岛市新藏街2丁目24番地 |
| 主权项： | 1.一种成分组成计测系统，其特征在于，具备：第一激光光源，对计测对象照射第一激光，所述第一激光具有产生等离子体程度的强度；第二激光光源，对所述计测对象照射第二激光，所述第二激光具有不产生等离子体程度的强度；光谱测定装置，根据由所述第一激光光源对所述计测对象照射第一激光而产生的等离子体的发光，测定表示各波长的强度的发光光谱；和控制装置，使用所测定的发光光谱的数据，分析所述计测对象的组成，所述第二激光光源在所述第一激光的照射开始前，开始照射所述第二激光，在所述第一激光的照射结束后，结束照射所述第二激光。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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