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原文传递荧光测定装置的校正用基准体

专利名称：	荧光测定装置的校正用基准体
摘要：	基准体(1)包括：支撑体(10)，其设置有第1光通过部(18)及第2光通过部(19)、以及第1收纳空间(14)及第2收纳空间(15)；第1荧光体(20)，其收纳于第1收纳空间(14)，在第1波长区域的第1激发光经由第1光通过部(18)被照射时发出第2波长区域的第1荧光；第2荧光体(30)，其收纳于第2收纳空间(15)，在第1波长区域的第2激发光经由第2光通过部(19)被照射时发出第2波长区域的第2荧光；以及遮光部(13)，其配置于第1收纳空间(14)与第2收纳空间(15)之间。在入射至第1光通过部(18)的第1激发光的光量与入射至第2光通过部(19)的第2激发光的光量相互相等的情况下，自第1光通过部(18)出射的第1荧光的光量与自第2光通过部(19)出射的第2荧光的光量互不相同。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	浜松光子学株式会社
发明人：	长谷川宽;中村隆之;石上喜浩;近藤房宣
专利状态：	有效
申请号：	CN201780030146.2
公开号：	CN109154570A
代理机构：	北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人：	杨琦
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本静冈县
主权项：	1.一种荧光测定装置的校正用基准体，其特征在于，包括：支撑体，其设置有第1光通过部及第2光通过部、以及与所述第1光通过部相对的第1收纳空间及与所述第2光通过部相对的第2收纳空间；第1荧光体，其收纳于所述第1收纳空间，在第1波长区域的第1激发光经由所述第1光通过部被照射时发出第2波长区域的第1荧光；第2荧光体，其收纳于所述第2收纳空间，在所述第1波长区域的第2激发光经由所述第2光通过部被照射时发出所述第2波长区域的第2荧光；以及遮光部，其配置于所述第1收纳空间与所述第2收纳空间之间，在入射至所述第1光通过部的所述第1激发光的光量与入射至所述第2光通过部的所述第2激发光的光量相互相等的情况下，自所述第1光通过部出射的所述第1荧光的光量与自所述第2光通过部出射的所述第2荧光的光量互不相同。
所属类别：	发明专利