专利名称: |
硅系离型膜交联率测试方法 |
摘要: |
本发明公开了硅系离型膜交联率测试方法,包括如下步骤:S1前期准备:调试X光涂布量测试仪,并设置测试参数;S2第一次测试:取一块离型膜,放置在测试平台上,用X光涂布量测试仪器测试其涂布量,并得到涂布量为X1;S3浸泡:将所述离型膜浸泡在装有制备该离型膜时所采用的溶剂的容器中,浸泡12~72小时,确保所述离型膜中未交联的硅油进入到所述溶剂中,浸泡完成后,自然风干;S4第二次测试:将经过步骤S3处理后的所述离型膜再采用X光涂布量测试仪测试离型膜的涂布量,并得到涂布量为X2;S5获得交联率:将步骤S2和步骤S4分别测得的涂布量X1和涂布量X2进行计算得到比值的百分比即为其交联率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
苏州市星辰科技有限公司 |
发明人: |
唐月方 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811128041.3 |
公开号: |
CN109164114A |
代理机构: |
南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 |
代理人: |
王真 |
分类号: |
G01N23/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
215103 江苏省苏州市吴中区横泾镇上庄路18号 |
主权项: |
1.一种硅系离型膜交联率测试方法,其特征在于:具体包括如下步骤:S1前期准备:调试X光涂布量测试仪,并设置测试参数;S2第一次测试:取一块离型膜,放置在测试平台上,用X光涂布量测试仪器测试其涂布量,并得到涂布量为X1;S3浸泡:将所述离型膜浸泡在装有制备该离型膜时所采用的溶剂的容器中,浸泡12~72小时,确保所述离型膜中未交联的硅油进入到所述溶剂中,浸泡完成后,自然风干;S4第二次测试:将经过步骤S3处理后的所述离型膜再采用X光涂布量测试仪测试离型膜的涂布量,并得到涂布量为X2;S5获得交联率:将步骤S2和步骤S4分别测得的涂布量X1和涂布量X2进行计算得到比值的百分比即为其交联率。 |
所属类别: |
发明专利 |