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原文传递一种离型膜保护膜的硅转移测试方法

专利名称：	一种离型膜保护膜的硅转移测试方法
摘要：	本发明公开一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。本发明通过设置测试组以及对照组，并且将两组的测试数据进行计算，从而快速计算硅转移率，方便快捷，且测试结果准确率高。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市普利司德高分子材料有限公司
发明人：	刘勇雄
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201910297603.5
公开号：	CN109991161A
分类号：	G01N19/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N19
申请人地址：	518000 广东省深圳市坪山新区坑梓梓横路41号—B101
主权项：	1.一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。 2.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S1中截取胶带时，其中胶带A、胶带B等长、等宽，且两者型号形同。 3.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S3中，胶带A的两端贴附的面积与胶带B两端贴附的面积相等。 4.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S3中，将胶带A、胶带B两端贴附时，胶带A、胶带B的两端均为自然接触，且整体呈圆环状。 5.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S5中，当P处于0.95-1的范围时，视为无硅转移；当P处于0.8-0.95的范围时，视为轻度硅转移；当P小于0.8时，视为严重硅转移。 6.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S2中，将胶带A的a1端贴附于离型膜表面并采用手指抚平时，胶带A与离型膜的组合体整体确保无褶皱、凹痕，且胶带A与离型膜之间无气泡。 7.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S4中，将胶带A的两端贴附以及胶带B的两端贴附时，胶带A两端的粘结处以及胶带B两端的粘结处整体确保无褶皱、凹痕，且两端的接触面无气泡。
所属类别：	发明专利