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原文传递 样品中氚的BIXS方法分析装置
专利名称: 样品中氚的BIXS方法分析装置
摘要: 本发明公开了一种样品中氚的BIXS方法分析装置,其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计;所述真空筒位于操作台上方,所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内,所述探测器安装座滑动设置在导轨上,所述X射线探测器设置在探测器安装座上,所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧,所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。本发明充分利用了β射线与物质相互作用的特点,结构简单、体积小、价格便宜、检测速度快、灵敏度高、且支持在真空及充氩气两种不同情况下进行实验;具有对样品分析无损的特点,且操作简单,对实验人员无伤害的优势;分别选用真空及充氩气两种方法实现对样品的分析;所占空间小,易于移动,对于有氚分析需求的各高校及相关科研单位是一个很理想的选择。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 四川;51
申请人: 四川大学
发明人: 朱敬军;安竹;刘慢天;陈浩;张乐
专利状态: 有效
申请号: CN201810889274.9
公开号: CN109164115A
代理机构: 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297
代理人: 王敏
分类号: G01N23/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 610044 四川省成都市一环路南一段24号
主权项: 1.一种样品中氚的BIXS方法分析装置,其特征在于,其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计;所述真空筒位于操作台上方,所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内,所述探测器安装座滑动设置在导轨上,所述X射线探测器设置在探测器安装座上,所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧,所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。
所属类别: 发明专利
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