专利名称: |
样品中氚的BIXS方法分析装置 |
摘要: |
本发明公开了一种样品中氚的BIXS方法分析装置,其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计;所述真空筒位于操作台上方,所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内,所述探测器安装座滑动设置在导轨上,所述X射线探测器设置在探测器安装座上,所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧,所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。本发明充分利用了β射线与物质相互作用的特点,结构简单、体积小、价格便宜、检测速度快、灵敏度高、且支持在真空及充氩气两种不同情况下进行实验;具有对样品分析无损的特点,且操作简单,对实验人员无伤害的优势;分别选用真空及充氩气两种方法实现对样品的分析;所占空间小,易于移动,对于有氚分析需求的各高校及相关科研单位是一个很理想的选择。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
四川大学 |
发明人: |
朱敬军;安竹;刘慢天;陈浩;张乐 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810889274.9 |
公开号: |
CN109164115A |
代理机构: |
北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 |
代理人: |
王敏 |
分类号: |
G01N23/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
610044 四川省成都市一环路南一段24号 |
主权项: |
1.一种样品中氚的BIXS方法分析装置,其特征在于,其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计;所述真空筒位于操作台上方,所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内,所述探测器安装座滑动设置在导轨上,所述X射线探测器设置在探测器安装座上,所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧,所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。 |
所属类别: |
发明专利 |