专利名称: |
一种光谱量测装置 |
摘要: |
本申请公开了一种光谱量测装置,包括一容置空间,由一第一内侧壁面、一第二内侧壁面、一第三内侧壁面、一第四内侧壁面和一第五内侧壁面包围界定。第一内侧壁面形成一开口以容置一光谱仪探头,第二内侧壁面和第五内侧壁面分别邻接于第一内侧壁面的两侧,第三内侧壁面和第四内侧壁面和第一内侧壁面相对。第三内侧壁面的正向法线和第一内侧壁面的正向法线相交,第四内侧壁面的正向法线和第一内侧壁面的正向法线相交。通过此,有效减少光谱仪探头的投射光经反射后的反射光对于光谱量测的干涉。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
中国台湾;71 |
申请人: |
大川光学股份有限公司 |
发明人: |
郑上仁;沈峰民 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201821085067.X |
公开号: |
CN208350623U |
代理机构: |
北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 |
代理人: |
许志勇;李有财 |
分类号: |
G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
中国台湾新竹县竹北市嘉丰南路二段76号5楼之2 |
主权项: |
1.一种光谱量测装置,用于量测一待测物质的光谱,其特征在于,所述光谱量测装置包括:一本体,其内部形成一容置空间,且于顶面形成一第一开口,俾一盛有所述待测物质的容器经由所述第一开口置入所述容置空间;其中,所述容置空间由彼此连接在一起的一第一内侧壁面、一第二内侧壁面、一第三内侧壁面、一第四内侧壁面和一第五内侧壁面包围界定,所述第二内侧壁面和所述第一内侧壁面的一侧邻接,所述第五内侧壁面和所述第一内侧壁面的另一侧邻接,所述第三内侧壁面和所述第四内侧壁面和所述第一内侧壁面相对,所述第三内侧壁面和所述第二内侧壁面邻接且形成一第一棱部,所述第四内侧壁面和所述第五内侧壁面邻接且形成一第二棱部,所述第三内侧壁面和所述第四内侧壁面彼此邻接且形成一第三棱部,所述第三棱部远离所述容置空间,所述第三棱部和所述第一棱部之间的距离小于所述第三棱部和所述第二棱部之间的距离;所述第一内侧壁面上形成一和外界连通的一第二开口,所述第二开口的开口方向和所述第一开口的开口方向彼此垂直;和所述第三内侧壁面的正向法线和所述第一内侧壁面的正向法线相交,且所述第四内侧壁面的正向法线和所述第一内侧壁面的正向法线相交,所述第三内侧壁面和所述第四内侧壁面之间的夹角最大值为125°。 |
所属类别: |
实用新型 |