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一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法
| 专利名称： | 一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法，该方法中涉及的装置由待测样品、凸透镜、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，通过改变入射激光与待测样品表面的夹角为10°‑30°，而达到避免激发激光二次谐波影响目的。本发明所述方法具有操作简单、效率高、无需任何其他滤光片等特点。解决了目前存在的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 新疆;65 |
| 申请人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 发明人： | 玛丽娅·黑尼;莫敏·塞来;艾尔肯·阿不都瓦衣提;赵晓凡;慎小宝;许焱;雷琪琪;李豫东;郭旗 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811242778.8 |
| 公开号： | CN109187445A |
| 代理机构： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 |
| 代理人： | 张莉 |
| 分类号： | G01N21/63(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号 |
| 主权项： | 1.一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法，其特征在于：该方法中涉及的装置由待测样品、凸透镜、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，待测样品（2）垂直固定在样品室内，在样品室与单色仪（7）之间设有两个凸透镜（4），单色仪（7）入口处设有滤光片（6），单色仪（7）出口处设有探测器（8），具体操作按下列步骤进行：a、使用标准光致发光测试系统，先调整光路使得入射激光（1）光束高度与两个凸透镜（4）中心线和单色仪（7）入口中心高度保持一致；b、待测样品（2）垂直固定在样品室内，入射激光（1）与待测样品（2）表面的夹角设为10°‑30°；c、入射激光（1）打在待测样品（2）后反射激光（3）偏离凸透镜（4）中心线；d、从待测样品（2）发出的光致发光（5）通过两个凸透镜（4）后聚焦在单色仪（7）入口处，进入单色仪（7），并由连接在单色仪（7）出口的探测器（8）接收。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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